Dhyana 9KTDI Pro
Dhyana 9KTDI Pro(簡稱:D 9KTDI Pro)背照式TDI 相機基于先進的sCMOS 背照式減薄和TDI 時間積分技術,采用可靠穩定的制冷封裝技術,覆蓋從180 nm 紫外到1100 nm 近紅外寬光譜,有效提升紫外TDI線掃、弱光掃描檢測能力,旨在為半導體晶圓缺陷檢測、半導體材料缺陷檢測、基因測序等應用提供更高效率、更穩定的檢測支持。
Dhyana 9KTDI Pro 采用背照式 sCMOS 技術,已驗證的響應波段可覆蓋180 nm - 1100 nm區域。256級 TDI技術可以大幅提升紫外(193nm/266nm/355nm等波段)、可見光、近紅外等弱光成像信噪比,提高設備檢測精度。
Dhyana 9KTDI Pro 配備CoaxPress-Over-Fiber 2 x QSFP+ 高速接口,其傳輸效率相當于背照式 CCD-TDI 相機的54倍,顯著提升設備的檢測效率。Dhyana 9KTDI Pro的相機行頻最高可達 9K @ 600 kHz,為行業提供快速的多級TDI線掃描解決方案。
高端挑戰性檢測應用中,對缺陷的檢測要求非常高,即使是1~2DN的灰階抖動都會影響檢測結果。鑫圖的制冷技術經過市場的長期驗證,不僅能夠對感光芯片實行精準的低溫控制,還能使相機在長時間工作中保持±0.5℃恒定狀態。如圖所示,鑫圖相機制冷后具有更均一的成像背景和更低的噪聲水平,可以為高精度缺陷檢測提供更精準可靠的數據支撐。
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